4月28日，哈尔滨工业大学教授、国家级高层次青年人才丁磊在润德楼北303作题为“上转换光学材料的精密检测和微纳加工”的学术报告。报告会由化学与材料工程学院副院长李川主持，相关专业教师代表、联合培养研究生及部分本科生共同聆听了报告。
丁磊教授在报告中首先明确了精密测量技术是推动高端制造、基础科学及新兴技术发展的关键引擎，尤其是显微光学测量因其非接触、亚微米分辨率及快速响应等优势，正成为微纳制造在线检测与活体细胞观测的重要手段。围绕“如何通过纳米探针的光物理特性调控与成像系统创新，突破光学衍射极限（<200nm）与极弱力成像灵敏度边界”这一核心科学问题，丁磊教授分享了其团队取得的一系列突破性进展：一是融合超分辨成像和全息光镊技术，突破了热噪声的限制，成功研制出常温下探测极弱作用力的普适性超分辨光子力显微镜，将相关探测灵敏度极限刷新至1.8fN/Hz1/2；二是利用光学纳米探针的独特非线性效应，发展出近红外单光束扫描的超分辨成像技术，分辨率较传统共聚焦方法分辨率提升了1.73倍，并开辟了新维度的多路复用超分辨模态；三是通过创新散射的调制策略，构建了双模态干涉散射显微技术，实现了对活细胞内颗粒物的实时追踪。
在交流互动环节，现场师生踊跃提问，围绕超分辨光子力显微镜的极限探测能力、近红外单光束扫描的非线性作用机理，以及双模态干涉散射技术在生物医学、电化学及微纳制造领域中的应用前景等问题展开了深入探讨。丁磊教授结合自身研究工作，从实际问题出发，就如何设计与优化超分辨成像体系及光力探测方法进行了细致解答，进一步加深了师生对相关领域实际应用的理解。
本次学术报告视野开阔、内容前沿且极具启发性，在精密测量与显微光学成像领域，丁磊教授的工作不仅有效拓展了师生们的学术视野，更以多项突破光学衍射极限与灵敏度边界的创新方法，为相关研究指明了新方向，对学院的学科建设与人才培养起到了积极的推动作用。（文/武彤 图/高晓宝 初审/高晓宝 复审/李川 终审/王小东 发布/崔苏如）
